KP Technology扫描开尔文探针-材料表征 非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界高分辨率的测试系统。

超高真空开尔文探针-材料表征 开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，

气氛可控开尔文探针-材料表征 气氛可控开尔文探针RHC020 气氛控制扫描开尔文探针是控制气氛检测样品的理想解决方案，50x50mm样品加热器可将样品温度升至100℃，采用先进的电子和硬件系统即时监测控制温度和湿度变化，附加表面光

单点开尔文探针-材料表征 开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界高分辨率的测试系统。

皮可安培计-材料表征 技术参数： 接口 输入: BNC; 模拟输出: Banana jacks 偏压选项： 无偏压/ 内置偏压 （± 90 V DC）/ 外置偏压 （BNC）

开尔文探针系统-半导体表征 开尔文探针系统材料表面的功函数通常由上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种较灵敏的表面分析技术。

皮可安培计（USB接口）-材料表征 技术参数： 接口 输入: BNC; 模拟输出 偏压选项： 无偏压/ 内置偏压 （± 90 V DC）/ 外置偏压 （BNC）

俄歇电子能谱仪（在线表面分析）-材料表征 The microCMA is a compact （2.75“ CF mount） cylindrical mirror type Auger （AES, Auger Electron Spectroscopy） analyzer.